Gói phân tích dữ liệu microlithography có khả năng lắp bộ dữ liệu kiểu Bossung, còn được gọi là ma trận phơi nhiễm lấy nét. Từ kho từ: Thạch bản, Photolithography, Photoresist, Quá trình Window, Critical Dimension, CD, Bossung, FEM
lịch sử phiên bản
- Phiên bản N/A đăng trên 2011-08-11
Một số bản sửa lỗi và cập nhật - Phiên bản N/A đăng trên 2011-08-11
Chi tiết chương trình
- Mục: Phát triển > Khác
- Publisher: freedata.sf.net
- Giấy phép: Miễn phí
- Giá: N/A
- Phiên bản: Array
- Nền tảng: windows